Home
->  8月開催 電気系セミナー  9月開催 電気系セミナー 

【Live配信セミナー】
イオンマイグレーションの発生メカニズムとその対策

8月開催 電気系セミナー  更新日:2020年7月 1日
 セミナー番号【009411】9/4 講師1名
★ イオンマイグレーションによる絶縁劣化のメカニズムを徹底解説!
★ 電子デバイスの微細化に対応するには? 耐イオンマイグレーション性の確保、発生防止策を詳解!

【Live配信セミナー】
イオンマイグレーションの発生メカニズムとその対策


■ 講師
千葉大学 名誉教授 工学博士 山野 芳昭 氏

■ 開催要領
日 時 : 2020年9月4日(金) 11:00~16:00
会 場 : ZOOMを利用したLive配信 ※会場での講義は行いません
聴講料 :
1名につき50,000円(消費税抜き・資料付き)
〔1社2名以上同時申込の場合1名につき45,000円(税抜)〕

※定員になり次第、お申込みは締切となります。

■ Live配信セミナーの受講について
・ 本講座はZoomを利用したLive配信セミナーです。セミナー会場での受講はできません。

・ 下記リンクから視聴環境を確認の上、お申し込みください。
 → https://zoom.us/test

・ 開催日が近くなりましたら、視聴用のURLとパスワードをメールにてご連絡申し上げます。
 セミナー開催日時に、視聴サイトにログインしていただき、ご視聴ください。

・ Zoomクライアントは最新版にアップデートして使用してください。

・ パソコンの他にタブレット、スマートフォンでも視聴できます。

・ セミナー配布資料は印刷物を郵送いたします。

・ 当日は講師への質問することができます。可能な範囲で個別質問にも対応いたします。

・ 本講座で使用される資料や配信動画は著作物であり、録音・録画・複写・転載・配布・上映・販売等を禁止いたします。

・ 本講座はお申し込みいただいた方のみ受講いただけます。
 複数端末から同時に視聴することや複数人での視聴は禁止いたします。

・ Zoomのグループにパスワードを設定しています。部外者の参加を防ぐため、パスワードを外部に漏洩しないでください。
 万が一部外者が侵入した場合は管理者側で部外者の退出あるいはセミナーを終了いたします。


プログラム

【講演概要】
 現在多くの電子パーツや電子デバイスをユニット化して電気・電子機器や電気・電子システムに組み込まれる場合が多い。そのため、一つの安価な小さなパーツで発生したイオンマイグレーションが原因となって、操業中のシステム全体の不具合となって現れるため、結果としてシステム全体の信頼性を低下させる原因となるケールが想定される。

 本講座(「イオンマイグレーションの発生メカニズムとその対策」)は、特に電気・電子機器や部品に関係する製品開発・設計に関わる技術者のみならず、そのような製品や部品の製造プロセスに関わる技術者を対象に、イオンマイグレーションの基本的事項の解説に重点を置き、個々の開発、設計や製造の現場で信頼性向上への応用が可能なよう実例に触れながら詳しく解説する。


【受講対象】
電気・電子部品、機器やシステムの開発設計に関わる現場の技術者やこれらの信頼性 を取り扱う技術者、研究者など。
             
                                                
【受講後、習得できること】
個々の製造工程に応じた、イオンマイグレーションの防止対策を行うための、視点や観点


【プログラム】
1.プリント配線板と電子デバイスの微細化とイオンマイグレーション
 1-1 イオンマイグレーションとは
 1-2 プリント配線板と電子デバイスの微細化とイオンマイグレーションによる絶縁劣化

2.イオンマイグレーションの発生要因
 2-1 絶縁材料、導体材料、その他不純物の影響
 2-2 印加電圧の影響
 2-3 環境(温度、湿度等)の影響

3.耐イオンマイグレーション性評価
 3-1 評価試験の分類
 3-2 評価試料、及び電極パターン
 3-3 簡易試験、及び加速試験方法
 3-4 イオンマイグレーションの発生検出方法

4.イオンマイグレーションの防止
 4-1 電極材料(金属)の溶解防止
 4-2 金属イオンの移動防止
 4-3 電極材料(金属)の析出防止
 4-4 半導体等のデバイスパッケージにおける発生防止

5.まとめ


【質疑応答】