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高周波基板における接着性向上と誘電率計測技術

6月開催 化学系セミナー  更新日:2019年5月 8日
 セミナー番号【906225】6/24 講師2名
★低伝送損失化へ向けた、プラズマ処理によるフッ素樹脂の接着性向上

高周波基板における接着性向上と誘電率計測技術


■ 講 師


1.大阪大学 大学院工学研究科 附属超精密科学研究センター 助教 大久保 雄司 氏

2.(国研)産業技術総合研究所 電磁気計測研究グループ 加藤 悠人 氏

■ 開催要領
日 時 :
2019年6月24日(月) 13:00~16:15

会 場 : [東京・五反田] 日幸五反田ビル8F 技術情報協会 セミナールーム
聴講料 :
1名につき50,000円(消費税抜、資料付)
〔1社2名以上同時申込の場合のみ1名につき45,000円〕

※定員になり次第、お申込みは締切となります。


プログラム

【13:00-14:30】

1.高速・高周波向けフッ素樹脂基板における伝送損失低減と接着性向上

●講師  大阪大学 大学院工学研究科 附属超精密科学研究センター 助教 大久保 雄司 氏

※講演項目を変更いたしました(4/26)
【習得できる知識】
・なぜ高周波を使用する必要があるかを説明できるようになります。
・高周波用プリント配線板に求められることについて解説できるようになります。
・フッ素樹脂の接着性が低い理由について説明できるようになります。
・プラズマ処理によりフッ素樹脂の接着性を向上する際に注意すべきポイントについて説明できるようになります。
・低誘電率と低誘電正接を示すフッ素樹脂を高周波用途で利用する上で重要なポイントについて説明できるようになります。

【講座の趣旨】
本講座では、直流と交流の違いとは?周波数と伝送できる情報量の関係は?フッ素樹脂とはどんなものか?プラズマとは何か?等の基礎的な解説から始めますので、予備知識がない方でも気楽にご聴講頂けます。様々な樹脂の接着性向上を可能とするプラズマ処理ですが、フッ素樹脂に対しては単にプラズマ処理してもほとんど効果がありません。そこで、プラズマ処理+αの技術をご紹介し、フッ素樹脂であっても接着性を向上できる手法を学んで頂きます。また、高周波用プリント配線板としてフッ素樹脂を利用する上で注意すべきポイントについても解説します。

1.はじめに
 1.1 直流と交流の違いは?
 1.2 なぜ高周波?
 1.3 高周波用プリント配線板に求められることは?
 1.4 なぜフッ素樹脂?

2.これまでの研究成果
 2.1 ゴムとフッ素樹脂の接着
 2.2 銅めっき膜とフッ素樹脂の接着
 2.3 金属インク膜とフッ素樹脂の接着
 2.4 金属ペースト膜とフッ素樹脂の接着
 2.5 接着強度のまとめ

3.フッ素樹脂
 3.1 フッ素原子の特徴(低比誘電率、低誘電正接)
 3.2 フッ素樹脂の特徴(低接着性、低比誘電率、低誘電正接)
 3.3 フッ素樹脂の種類(非溶融性と溶融性)
 3.4 フッ素樹脂の用途
 3.5 フッ素樹脂の表面改質技術と先行研究

4.プラズマ処理+α
 4.1 プラズマとは
 4.2 ガス種(接着性向上、高速化・低伝送損失化)
 4.3 圧力(接着性向上)
 4.4 プラズマ + 熱(接着性向上、高速化・低伝送損失化)
 4.5 表面グラフト重合(接着性向上、低伝送損失化)

5.今後の展望

【質疑応答】
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【14:45-16:15】

2.高周波基板材料の誘電率計測技術

●講師 (国研)産業技術総合研究所 電磁気計測研究グループ 加藤 悠人 氏

 
【講座の趣旨】
近年、高速大容量の無線通信を可能にするミリ波帯電磁波の利用が急速に拡大しています。また、自動車レーダーやセキュリティシステムなど、電磁波の応用範囲も拡大しています。電磁波を利用するシステムでは、誘電体材料が基板やアンテナなどとして用いられており、その誘電率は設計やシミュレーションに必須のパラメータです。電磁波の利用周波数や用途が拡大し、誘電率測定へのニーズが高まる中で、測定結果を正しく解釈するための尺度として、測定精度(不確かさ)評価の重要性も高まってきています。本講座では、高周波基板に用いられる低損失材料に対する、誘電率測定の概論と不確かさ解析事例を紹介するとともに、近年ニーズが急速に増大しているミリ波帯誘電率測定の最新動向を解説します。

1.誘電率測定のニーズと代表的な測定方法
 1.1 誘電率の定義
 1.2 誘電率測定のニーズ
 1.3 代表的な測定方法

2.低損失材料の面内方向誘電率評価技術
 2.1 スプリットシリンダー共振器法の測定原理
 2.2 不確かさ評価

3.低損失材料の面直方向誘電率評価技術
 3.1 平衡型円板共振器法の測定原理
 3.2 不確かさ評価
 3.3 測定再現性の向上に向けた取り組み
 3.3 測定周波数の170 GHzまでの拡張

【質疑応答】